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透鏡焦距測定儀
產品簡介
product
產品分類| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,生物產業,石油,地礦,電子/電池 | 光具座 | 長度80.0cm |
1.透鏡焦距測定儀 型號；DP-FD-0E-1
用光具座以透鏡成像原理測量凸透鏡和凹透鏡的焦距是理科大學的個主要的光學物理實驗。目前通用的光具座存在下列不足：體積大、易生銹、移動不靈活且須在暗室中做實驗。給測量帶來不便。
該儀器采用優質鋁合金材料作底座及配件，以強度的 LED作為光源。經過重大改后，新儀器具有以下突出優點：
1．調節方便、體積小、重量輕、不會生銹、不易磨損。
2．標度線和標尺在同平面上，沒有視覺誤差，測量準確度。
3．耗電少，僅需3伏的電源。
4．可在明亮實驗室內做光學實驗。
是各理科大學、中專物理實驗教學中理想的優質光學實驗儀器。
透鏡焦距測定儀應用該儀器可以成以下實驗：
1．粗測凸透鏡的焦距。
2．用自準直測法和二次成像法測量凸透鏡的焦距。
3．利用測得的凸透鏡的焦距值，測量凹透鏡的焦距（選做）。
儀器主要術參數：
1．光具座 長度80.0cm，分度值1mm。（長度可以按客戶要求定做）
2．光源 亮度發光二管，作電壓3V。
3．透鏡 凸透鏡焦距約8cm，凹透鏡焦距約-18cm。
4．底座重量 2.5Kg。
2.光偏振實驗儀 型號；DP-FD-OE-2
光的偏振現象是波動光學中種重要現象，它在諸如光調制器、光開關、應力分析、光信息處理、光通訊、激光儀及光電子器件等方面有著廣泛的應用。光偏振實驗是校理科基本光學實驗之 ,本實驗通過半導體激光及塊偏振片以得到線偏振光來行實驗的,通過實驗可學習和掌握各種偏振光的產生和鑒別方法，了解和掌握偏振片，1/4波片和1/2波片的作用，加深對光的偏振性質的認識。本儀器具有以下優點:
1.采用強度優質鋁合金材料制成，表面經陽氧化處理 ,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹，使用壽命長。
2.帶有刻度的轉盤經心設計和，轉動輕巧靈活，讀數準確。
3.采用數字式光率計測量偏振光光強，測量結果穩定可靠。
4.有黑色遮光罩擋光，可在明光及通風條件下做光學實驗，在同實驗室各組實驗互不干擾。
應用本儀器可以成以下實驗：
1．了解1/4波片的性質和作用。
2．了解和掌握圓和橢圓偏振光產生以及檢驗方法。
3．了解和掌握1/2波片的性質和作用。
儀器主要術參數：
1．光源 半導體激光器，波長650nm，率1.5－2.0mW，作電壓直流3V。
2．光具座 長度80.0cm，分度值1mm，底座質量2.5Kg。（長度可定做）
3．數字式光率計 量程有200uW和2mW二檔，三位半液晶顯示。
3.智能型模擬斷路器 模擬斷路器 型號：DP-GC-MY
模擬斷路器主要用于電力系統斷電保護裝置或成套繼電保護屏的整組試驗，可真實地模擬斷路器的跳合閘時間。在整組試驗時模擬壓斷路器的跳閘及合閘，以避免由于重復的整組試驗成斷路器反復分合帶來的不良影響。
術參數
◎ 供電電源AC200V±10%；
◎ 跳合閘操作為電源電壓：DC220V、DC110V；
◎ 跳合閘阻抗選擇400Ω、200Ω、110Ω；
◎ 合閘時間選擇：20-200ms；
◎ 跳閘時間選擇：20-100ms；
◎ 模擬斷路器常閉/常開接點容量為AC220V/5A。
主要特點
該斷路器采用數字電路，時間為數字撥碼設置，可實現模擬斷路器跳合閘時間設置、三相/分相操作選擇、輸入信號邏輯控制等能，從而模擬斷路器的跳、合閘動作。
4.單絲和單縫衍射實驗儀 型號；DP-FD-OE-5
單絲、單縫和小孔衍射實驗是校理科基本光學實驗之。本儀器用半導體激光器為光源，觀察單絲、單縫和圓孔的夫瑯和費衍射現象，以及絲徑、縫寬、孔徑的變化對衍射的影響，加深對光的衍射理論的理解，并利用衍射花樣測定單絲的直徑和單縫寬度。本儀器有以下優點：
1．光具座用強度優質鋁合金材料制成，表面經陽氧化處理，儀器重量輕，體積小，經久耐用，不生銹，使用壽命長。
2．配有各種直徑的單絲(包括專用支架)、小孔和不同縫寬的單縫，觀察各種衍射現象，物理現象明顯。采用非接觸測量方法，測量金屬絲直徑和細縫縫寬的準確度較。
3．光具座的滑塊可離開導軌自由在桌面上移動，以增加白色象屏與單絲(或單縫)距離，用米尺可準確測出它們之間距離(滑塊與導軌經專門設計)。
應用本儀器可以成以下實驗：
1．用于基礎物理實驗作光衍射實驗用。
2．作設計性與綜合性學生物理實驗。
3．可用于課堂光衍射實驗及自學物理實驗。
儀器主要術參數：
1．光具座 底座長度50.0cm，其分度值1mm，底座質量2.5Kg。（長度可定做）
2．滑塊三只，滑塊側面有專門刻線，便于測量屏到縫的直線距離。
3．單絲、小孔和狹縫支架個。
4．半導體激光器及電源，激光波長650nm，激光器作直流電壓3V。
5.雙棱鏡光干涉實驗儀 型號；DP-FD-FBI-B
1826年法科學家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級)。此光干涉實驗的物理思想、實驗方法與測量巧,具有很深的教學價值。本雙棱鏡光干涉實驗儀具有以下優點：
1.配有半導體激光 (650.0nm)單色光源，半導體激光經大幅度降低光強處理，用其作光源具有相干性且不傷害眼睛的優點，可很方便調出圖像清晰干涉條紋，也為鈉光干涉條紋調節帶來方便，測量二種光的波長行。
2.導軌和轉盤采用強度優質鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、不會生銹、經久耐用、手感好。
3．帶有黑色擋光罩，可在白光及通風條件下做光學實驗。
本儀器可供大專院校基礎物理實驗和設計性研究性物理實驗。
應用本儀器可以成以下實驗：
1．觀察雙棱鏡的干涉現象。
2．測量激光器的波長以及鈉燈黃光的波長。
3．觀察其他光源的雙棱鏡光干涉現象。
儀器主要術參數：
1．導軌 長80.0cm，分度值1mm；滑塊5只，其中1個滑塊上帶轉動裝置。
2．帶轉盤的狹縫 縫寬約0.04mm。
3．測微目鏡和支架 測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm。
4．光源 半導體激光器，光波長650.0nm，已大幅度衰減光強。作電壓直流3V。
5．鈉光燈及電源（選配）。
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